NF C96-017*NF EN 62374:2008
Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme

Standard-Nr.

NF C96-017*NF EN 62374:2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Association Francaise de Normalisation

Letzte Version

NF C96-017*NF EN 62374:2008

NF C96-017*NF EN 62374:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 NF C96-017*NF EN 62374:2008 Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme