NF C96-013-6-20*NF EN 60191-6-20:2011
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messmethoden für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ)

Standard-Nr.

NF C96-013-6-20*NF EN 60191-6-20:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

Association Francaise de Normalisation

Letzte Version

NF C96-013-6-20*NF EN 60191-6-20:2011

NF C96-013-6-20*NF EN 60191-6-20:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 NF C96-013-6-20*NF EN 60191-6-20:2011 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messmethoden für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ)