CEI EN 60749-28:2017
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene

Standard-Nr.

CEI EN 60749-28:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

SCC

Letzte Version

CEI EN 60749-28:2017

CEI EN 60749-28:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 CEI EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene