DIN EN 60749-28:2018
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (IEC 60749-28:2017); Deutsche Fassung EN 60749-28:2017