T/IAWBS 012-2019
Testmethode für Oberflächenqualität und Mikroröhrendichte von Siliziumkarbid-Einkristall-Polierwafern – konfokale und differenzielle Interferometrie-Optik (Englische Version)
- Standard-Nr.
- T/IAWBS 012-2019
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2019
- Organisation
- Group Standards of the People's Republic of China
- Letzte Version
- T/IAWBS 012-2019
T/IAWBS 012-2019 Veröffentlichungsverlauf
- 2019 T/IAWBS 012-2019 Testmethode für Oberflächenqualität und Mikroröhrendichte von Siliziumkarbid-Einkristall-Polierwafern – konfokale und differenzielle Interferometrie-Optik
