SJ/T 11706-2018
Verfahren zum Testen eines feldprogrammierbaren Gate-Arrays für integrierte Halbleiterschaltungen (Englische Version)

Standard-Nr.

SJ/T 11706-2018

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2018

Organisation

工业和信息化部

Letzte Version

SJ/T 11706-2018

SJ/T 11706-2018 Veröffentlichungsverlauf

• 2018 SJ/T 11706-2018 Verfahren zum Testen eines feldprogrammierbaren Gate-Arrays für integrierte Halbleiterschaltungen