KS C IEC 60749-8-2006(2021)
Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 8: Versiegelung

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-8-2006(2021)

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60749-8-2006(2021)

KS C IEC 60749-8-2006(2021) Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C IEC 60749-8-2021 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 8: Versiegelung
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• 2006 KS C IEC 60749-8:2006 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfmethoden – Teil 8: Versiegelung