GB/T 36474-2018
Integrierte Halbleiterschaltung – Messmethoden für synchronen dynamischen Direktzugriffsspeicher mit doppelter Datenrate 3 (DDR3 SDRAM) (Englische Version)
Start
GB/T 36474-2018
Standard-Nr.
GB/T 36474-2018
Sprachen
Chinesisch,
Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2018
Organisation
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
Letzte Version
GB/T 36474-2018
GB/T 36474-2018 Normative Verweisungen
GB/T 17574
Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltkreise. Teil 2: Digitale integrierte Schaltkreise
GB/T 36474-2018 Veröffentlichungsverlauf
2018
GB/T 36474-2018
Integrierte Halbleiterschaltung – Messmethoden für synchronen dynamischen Direktzugriffsspeicher mit doppelter Datenrate 3 (DDR3 SDRAM)
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