EN 60444-8:2017
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten

Standard-Nr.

EN 60444-8:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Letzte Version

EN 60444-8:2017

EN 60444-8:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
• 2003 EN 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten