DIN EN 60749-44 E:2014-08
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 44: Neutronenstrahlbestrahltes Einzelereigniseffekt-Prüfverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente

Standard-Nr.
DIN EN 60749-44 E:2014-08
Erscheinungsdatum
1970
Organisation
/
Zustand
ersetzt durch
DIN EN 60749-44:2017
Letzte Version
DIN EN 60749-44:2017-04

DIN EN 60749-44 E:2014-08 Veröffentlichungsverlauf

  • 2017 DIN EN 60749-44:2017-04 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Neutronenstrahlbestrahltes Einzelereigniseffekt-Prüfverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente (IEC 60749-44:2016); Deutsche Fassung EN 60749-44:2016
  • 2017 DIN EN 60749-44:2017 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Neutronenstrahlbestrahltes Einzelereigniseffekt-Prüfverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente (IEC 60749-44:2016); Deutsche Fassung EN 60749-44:2016
  • 1970 DIN EN 60749-44 E:2014-08 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 44: Neutronenstrahlbestrahltes Einzelereigniseffekt-Prüfverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 44: Neutronenstrahlbestrahltes Einzelereigniseffekt-Prüfverfahren (SEE) für Halbleiterbauelemente



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