IEEE N42.31-2003
Messverfahren für Auflösung und Effizienz von Halbleiterdetektoren mit großer Bandlücke für ionisierende Strahlung

Standard-Nr.

IEEE N42.31-2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.

Letzte Version

IEEE N42.31-2003

IEEE N42.31-2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2003 IEEE N42.31-2003 Messverfahren für Auflösung und Effizienz von Halbleiterdetektoren mit großer Bandlücke für ionisierende Strahlung