IEC TS 62607-6-20:2022
Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-20: Material auf Graphenbasis – Gehalt an metallischen Verunreinigungen: Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

Standard-Nr.

IEC TS 62607-6-20:2022

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC TS 62607-6-20:2022

IEC TS 62607-6-20:2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 IEC TS 62607-6-20:2022 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-20: Material auf Graphenbasis – Gehalt an metallischen Verunreinigungen: Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma