EN IEC 60749-28:2022
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene

Standard-Nr.

EN IEC 60749-28:2022

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Letzte Version

EN IEC 60749-28:2022

EN IEC 60749-28:2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene