DIN EN 60749-27/A1 E:2011
Dokumententwurf – Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 47/2107/CDV:2011); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006/FprA1:2011

Standard-Nr.

DIN EN 60749-27/A1 E:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

SCC

Zustand

ersetzt werden 2013-04

ersetzt durch

DIN EN 60749-27:2013

Letzte Version

DIN EN 60749-27:2013-04

DIN EN 60749-27/A1 E:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2013 DIN EN 60749-27:2013-04 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) - Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006 + A1:2012 / Hinweis: DIN EN 60749-27 (2007-01) re...
• 2013 DIN EN 60749-27:2013 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) - Maschinenmodell (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006 + A1:2012
• 2011 DIN EN 60749-27/A1 E:2011 Dokumententwurf – Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (IEC 47/2107/CDV:2011); Deutsche Fassung EN 60749-27:2006/FprA1:2011