IEC 61788-10:2002
Supraleitung – Teil 10: Kritische Temperaturmessung – Kritische Temperatur von Nb-Ti@ Nb3Sn@- und Bi-System-Oxid-Verbundsupraleitern durch eine Widerstandsmethode (Ausgabe 1.0)

Standard-Nr.
IEC 61788-10:2002
Erscheinungsdatum
2002
Organisation
IEC - International Electrotechnical Commission
Zustand
 2006-08
ersetzt durch
IEC 61788-10:2006
Letzte Version
IEC 61788-10:2006

IEC 61788-10:2002 Veröffentlichungsverlauf

  • 2006 IEC 61788-10:2006 Supraleitung – Teil 10: Messung der kritischen Temperatur – Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern durch ein Widerstandsverfahren
  • 2002 IEC 61788-10:2002 Supraleitung – Teil 10: Kritische Temperaturmessung – Kritische Temperatur von Nb-Ti@ Nb3Sn@- und Bi-System-Oxid-Verbundsupraleitern durch eine Widerstandsmethode (Ausgabe 1.0)
Supraleitung – Teil 10: Kritische Temperaturmessung – Kritische Temperatur von Nb-Ti@ Nb3Sn@- und Bi-System-Oxid-Verbundsupraleitern durch eine Widerstandsmethode (Ausgabe 1.0)



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