BS IEC 63229:2021
Halbleiterbauelemente. Klassifizierung von Defekten in Galliumnitrid-Epitaxiefilmen auf Siliziumkarbid-Substrat

Standard-Nr.

BS IEC 63229:2021

Erscheinungsdatum

2023

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

BS IEC 63229:2021

BS IEC 63229:2021 Veröffentlichungsverlauf

• 2023 BS IEC 63229:2021 Halbleiterbauelemente. Klassifizierung von Defekten in Galliumnitrid-Epitaxiefilmen auf Siliziumkarbid-Substrat