YD/T 702-2018
Prüfverfahren für optische PIN-FET-Empfangskomponenten (Englische Version)

Standard-Nr.

YD/T 702-2018

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2018

Organisation

工业和信息化部

Letzte Version

YD/T 702-2018

Ersetzen

YD/T 702-1993

YD/T 702-2018 Veröffentlichungsverlauf

• 2018 YD/T 702-2018 Prüfverfahren für optische PIN-FET-Empfangskomponenten
• 1994 YD/T 702-1993 Prüfverfahren für optische Empfangseinheiten