GSO IEC 60749-40:2015
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens

Standard-Nr.

GSO IEC 60749-40:2015

Erscheinungsdatum

2015

Organisation

GSO

Letzte Version

GSO IEC 60749-40:2015

GSO IEC 60749-40:2015 Veröffentlichungsverlauf

• 2015 GSO IEC 60749-40:2015 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens