UNE-EN IEC 60749-28:2022
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2022.)

Standard-Nr.

UNE-EN IEC 60749-28:2022

Erscheinungsdatum

2022

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN IEC 60749-28:2022

UNE-EN IEC 60749-28:2022 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 UNE-EN IEC 60749-28:2022 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2022.)