NF EN IEC 60749-30:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 30: Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Komponenten vor der Zuverlässigkeitsprüfung
2020NF EN IEC 60749-30:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 30: Vorkonditionierung nicht hermetischer oberflächenmontierter Komponenten vor der Zuverlässigkeitsprüfung