SAE SSB1A-1999
Richtlinien zur Qualifizierung und Überwachung kunststoffverkapselter Mikroschaltungen und Halbleiter (ehemals TechAmerica SSB-1-A)

Standard-Nr.
SAE SSB1A-1999
Erscheinungsdatum
1999
Organisation
SAE - SAE International
Zustand
 1999-12
ersetzt durch
SAE SSB1B-1999
Letzte Version
SAE SSB1_005-2021

SAE SSB1A-1999 Veröffentlichungsverlauf

  • 2021 SAE SSB1_005-2021 Strahlenhärtesicherung
  • 2020 SAE SSB1D-2020 Richtlinien für die Verwendung von kunststoffgekapselten Mikroschaltungen und Halbleitern in Militär, Luft- und Raumfahrt und anderen robusten Anwendungen
  • 2014 SAE SSB1_003A-2014 Beschleunigungsfaktoren
  • 2009 SAE SSB1_004A-2009 Failure Rate Estimating (Annex to SSB-1@ Guidelines for Using of Plastic Encapsulated Microcircuits and Semiconductors in Military@ Aerospace and Other Rugged Applications; Formerly TechAmerica SSB-1.004-A)
  • 2002 SAE SSB1_003A-2002 Beschleunigungsfaktoren (Anhang zu SSB-1@-Richtlinien für die Verwendung von kunststoffgekapselten Mikroschaltkreisen und Halbleitern in der militärischen Luft- und Raumfahrt und anderen robusten Anwendungen; früher TechAmerica SSB-1.003-A)
  • 2000 SAE SSB1C-2000 Richtlinien für die Verwendung von kunststoffgekapselten Mikroschaltungen und Halbleitern in der militärischen Luft- und Raumfahrt sowie anderen robusten Anwendungen (ehemals TechAmerica SSB-1-C)
  • 1999 SAE SSB1B-1999 Richtlinien für die Verwendung von kunststoffgekapselten Mikroschaltungen und Halbleitern in der militärischen Luft- und Raumfahrt sowie anderen robusten Anwendungen (ehemals TechAmerica SSB-1-B)
  • 1999 SAE SSB1A-1999 Richtlinien zur Qualifizierung und Überwachung kunststoffverkapselter Mikroschaltungen und Halbleiter (ehemals TechAmerica SSB-1-A)
  • 1999 SAE SSB1_004-1999 Schätzung der Ausfallrate (Anhang zu SSB-1@-Richtlinien für die Verwendung von kunststoffgekapselten Mikroschaltkreisen und Halbleitern in militärischen, Luft- und Raumfahrt- und anderen robusten Anwendungen; früher TechAmerica SSB-1.004)
  • 1999 SAE SSB1-1999 Richtlinien zur Qualifizierung und Überwachung kunststoffverkapselter Mikroschaltungen und Halbleiter (ehemals TechAmerica SSB-1)



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