KS C IEC 60749-23-2006(2016)
Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
Start
KS C IEC 60749-23-2006(2016)
Standard-Nr.
KS C IEC 60749-23-2006(2016)
Erscheinungsdatum
2006
Organisation
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Zustand
ersetzt werden
ersetzt durch
KS C IEC 60749-23:2021
Letzte Version
KS C IEC 60749-23:2021
KS C IEC 60749-23-2006(2016) Veröffentlichungsverlauf
2021
KS C IEC 60749-23:2021
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
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KS C IEC 60749-23-2006(2016)
2006
KS C IEC 60749-23:2006
Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
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