KS C IEC 60749-23:2021
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen

Standard-Nr.

KS C IEC 60749-23:2021

Erscheinungsdatum

2021

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60749-23:2021

KS C IEC 60749-23:2021 Veröffentlichungsverlauf

• 2021 KS C IEC 60749-23:2021 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
• 0000 KS C IEC 60749-23-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-23:2006 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen