IEC 60749-15:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
- Standard-Nr.
- IEC 60749-15:2020
- Erscheinungsdatum
- 2020
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 60749-15:2020
IEC 60749-15:2020 Veröffentlichungsverlauf
- 0000 IEC 60749-15:2020 RLV
- 2010 IEC 60749-15:2010 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente
- 2003 IEC 60749-15:2003 Mechanische und klimatische Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente Teil 15: Beständigkeit gegenüber Löttemperaturen für durchkontaktierte Bauelemente (Ausgabe 1.0; ersetzt IEC/PAS 62174: 2000; zusammen mit IEC 60749-14:2003 @ IEC 60749-3:2002 und IEC 60749 -31:200
