KS C 6111-3-2007(2017)
Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen

Standard-Nr.

KS C 6111-3-2007(2017)

Erscheinungsdatum

2007

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Zustand

ersetzt werden 2022-01

ersetzt durch

KS C 6111-3-2022

Letzte Version

KS C 6111-3-2022

KS C 6111-3-2007(2017) Veröffentlichungsverlauf

• 2022 KS C 6111-3-2022 Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen
• 0000 KS C 6111-3-2007(2017)
• 2007 KS C 6111-3-2007 Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen mit hohem TC bei Mikrowellenfrequenzen