NF EN IEC 60749-20:2020
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von SMTs im Kunststoffgehäuse gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze

Standard-Nr.

NF EN IEC 60749-20:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Association Francaise de Normalisation

Letzte Version

NF EN IEC 60749-20:2020

NF EN IEC 60749-20:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 NF EN IEC 60749-20:2020 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20: Beständigkeit von SMTs im Kunststoffgehäuse gegenüber der kombinierten Wirkung von Feuchtigkeit und Löthitze