DB34/T 3368.1-2019 Methoden zur Analyse gefährlicher Stoffe in Leiterplatten – Teil 1: Schnellscreening-Röntgenfluoreszenzspektrometrie für Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom (Englische Version)
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2019DB34/T 3368.1-2019 Methoden zur Analyse gefährlicher Stoffe in Leiterplatten – Teil 1: Schnellscreening-Röntgenfluoreszenzspektrometrie für Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom