DB34/T 3368.1-2019
Methoden zur Analyse gefährlicher Stoffe in Leiterplatten – Teil 1: Schnellscreening-Röntgenfluoreszenzspektrometrie für Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom (Englische Version)

Standard-Nr.
DB34/T 3368.1-2019
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2019
Organisation
Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China
Letzte Version
DB34/T 3368.1-2019

DB34/T 3368.1-2019 Veröffentlichungsverlauf

  • 2019 DB34/T 3368.1-2019 Methoden zur Analyse gefährlicher Stoffe in Leiterplatten – Teil 1: Schnellscreening-Röntgenfluoreszenzspektrometrie für Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom
Methoden zur Analyse gefährlicher Stoffe in Leiterplatten – Teil 1: Schnellscreening-Röntgenfluoreszenzspektrometrie für Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom



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