T/CIE 151-2022
Dynamische Alterungstestmethode für FPGA-Chips (Field Programmable Gate Array). (Englische Version)

Standard-Nr.

T/CIE 151-2022

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Organisation

Group Standards of the People's Republic of China

Letzte Version

T/CIE 151-2022

T/CIE 151-2022 Veröffentlichungsverlauf

• 1970 T/CIE 151-2022 Dynamische Alterungstestmethode für FPGA-Chips (Field Programmable Gate Array).