UNE-EN 60749-28:2017
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Bestätigt von der Asociación Española de Normalización im August 2017.)

Standard-Nr.

UNE-EN 60749-28:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN 60749-28:2017

UNE-EN 60749-28:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 UNE-EN 60749-28:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell geladener Bauelemente (CDM) – Geräteebene (Bestätigt von der Asociación Española de Normalización im August 2017.)