KS C IEC 60747-5-3:2020
Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente – Messmethoden

Standard-Nr.

KS C IEC 60747-5-3:2020

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Letzte Version

KS C IEC 60747-5-3:2020

KS C IEC 60747-5-3:2020 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 KS C IEC 60747-5-3:2020 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente – Messmethoden
• 2004 KS C IEC 60747-5-3:2004 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente – Teil 5 – 3: Optoelektronische Bauelemente – Messmethode