DIN EN IEC 63287-1:2020-06
Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die Zuverlässigkeitsqualifizierung von LSI (IEC 47/2614/CDV:2020); Deutsche und englische Version prEN IEC 63287-1:2020 / Hinweis: Ausgabedatum 08.05.2020*Als Ersatz gedacht...

Standard-Nr.
DIN EN IEC 63287-1:2020-06
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
ersetzt durch
DIN EN IEC 63287-1:2023-09
Letzte Version
DIN EN IEC 63287-1:2023-09

DIN EN IEC 63287-1:2020-06 Veröffentlichungsverlauf

  • 2023 DIN EN IEC 63287-1:2023-09 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifikation – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation (IEC 63287-1:2021); Deutsche Fassung EN IEC 63287-1:2021 / Hinweis: DIN EN 60749-43 (2018-05) bleibt neben dieser Norm weiterhin gültig ...
  • 2020 DIN EN IEC 63287-1:2020-06 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die Zuverlässigkeitsqualifizierung von LSI (IEC 47/2614/CDV:2020); Deutsche und englische Version prEN IEC 63287-1:2020 / Hinweis: Ausgabedatum 08.05.2020*Als Ersatz gedacht...
Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die Zuverlässigkeitsqualifizierung von LSI (IEC 47/2614/CDV:2020); Deutsche und englische Version prEN IEC 63287-1:2020 / Hinweis: Ausgabedatum 08.05.2020*Als Ersatz gedacht...



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