DB32/T 4378-2022
Vier-Sonden-Methode zur zerstörungsfreien Prüfung des Schichtwiderstands von dünnen Filmen im Nanometer- und Submikronbereich auf der Substratoberfläche (Englische Version)
- Standard-Nr.
- DB32/T 4378-2022
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2022
- Organisation
- Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China
- Letzte Version
- DB32/T 4378-2022
DB32/T 4378-2022 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 DB32/T 4378-2022 Vier-Sonden-Methode zur zerstörungsfreien Prüfung des Schichtwiderstands von dünnen Filmen im Nanometer- und Submikronbereich auf der Substratoberfläche
