GB/T 41064-2021
Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 41064-2021
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2021
- Organisation
- 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
- Letzte Version
- GB/T 41064-2021
GB/T 41064-2021 Normative Verweisungen
- ISO 14606 Chemische Oberflächenanalyse – Sputtertiefenprofilierung – Optimierung unter Verwendung von Schichtsystemen als Referenzmaterialien*， 2022-11-21 Aktualisieren
GB/T 41064-2021 Veröffentlichungsverlauf
- 2021 GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
