IEC 60679-1:1980/AMD1:1985
Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden

Standard-Nr.
IEC 60679-1:1980/AMD1:1985
Erscheinungsdatum
1970
Organisation
SCC
Zustand
 1997-12
ersetzt durch
IEC 60679-1:1997
Letzte Version
IEC 60679-1:2017
Ersetzen
1985-01-01

IEC 60679-1:1980/AMD1:1985 Veröffentlichungsverlauf

  • 2017 IEC 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • 2007 IEC 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • 1970 IEC 60679-1:1997/AMD2:2003 Änderung 2 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • 1970 IEC 60679-1:1997/AMD1:2002 Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • 1997 IEC 60679-1:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • 1970 IEC 60679-1:1980/AMD1:1985 Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
  • 1980 IEC 60679-1:1980 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden



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