IEC 60679-1:1980/AMD1:1985
Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
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IEC 60679-1:1980/AMD1:1985
Standard-Nr.
IEC 60679-1:1980/AMD1:1985
Erscheinungsdatum
1970
Organisation
SCC
Zustand
ersetzt werden
1997-12
ersetzt durch
IEC 60679-1:1997
Letzte Version
IEC 60679-1:2017
Ersetzen
1985-01-01
IEC 60679-1:1980/AMD1:1985 Veröffentlichungsverlauf
2017
IEC 60679-1:2017
Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
2007
IEC 60679-1:2007
Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
1970
IEC 60679-1:1997/AMD2:2003
Änderung 2 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
1970
IEC 60679-1:1997/AMD1:2002
Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
1997
IEC 60679-1:1997
Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
1970
IEC 60679-1:1980/AMD1:1985
Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
1980
IEC 60679-1:1980
Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
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