UNE-EN IEC 60749-10:2022 Halbleitergeräte – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 10: Mechanischer Schock – Gerät und Unterbaugruppe (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Juli 2022.)
2022UNE-EN IEC 60749-10:2022 Halbleitergeräte – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 10: Mechanischer Schock – Gerät und Unterbaugruppe (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Juli 2022.)