DIN EN 2591-508:2023-03
Luft- und Raumfahrt - Elemente elektrischer und optischer Verbindungen - Prüfverfahren - Teil 508: Messung der Schichtdicke auf Kontakten; Deutsche Fassung ASD-STAN prEN 2591-508:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 27.01.2023*Gedient als Ersatz für DIN EN ...
- Standard-Nr.
- DIN EN 2591-508:2023-03
- Erscheinungsdatum
- 2023
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Zustand
- ersetzt durch
- DIN EN 2591-508:2023-12
- Letzte Version
- DIN EN 2591-508:2023-12
DIN EN 2591-508:2023-03 Veröffentlichungsverlauf
- 2023 DIN EN 2591-508:2023-12 Luft- und Raumfahrt - Elemente elektrischer und optischer Verbindungen - Prüfverfahren - Teil 508: Messung der Schichtdicke auf Kontakten; Deutsche und englische Fassung EN 2591-508:2023
- 2023 DIN EN 2591-508:2023-03 Luft- und Raumfahrt - Elemente elektrischer und optischer Verbindungen - Prüfverfahren - Teil 508: Messung der Schichtdicke auf Kontakten; Deutsche Fassung ASD-STAN prEN 2591-508:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 27.01.2023*Gedient als Ersatz für DIN EN ...
- 2023 DIN EN 2591-508:2023 Luft- und Raumfahrt - Elemente elektrischer und optischer Verbindungen - Prüfverfahren - Teil 508: Messung der Schichtdicke auf Kontakten; Deutsche und englische Fassung EN 2591-508:2023
- 2003 DIN EN 2591-508:2003-05 Luft- und Raumfahrt - Elemente der elektrischen und optischen Verbindung; Prüfverfahren - Teil 508: Messung der Schichtdicke auf Kontakten; Deutsche und englische Fassung EN 2591-508:2001 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 2591-100 (2001-11).*Zu beachten...
- 2003 DIN EN 2591-508:2003 Luft- und Raumfahrt - Elemente elektrischer und optischer Verbindungen; Prüfverfahren - Teil 508: Messung der Schichtdicke auf Kontakten; Deutsche und Englische Fassung EN 2591-508:2001
- 0000 DIN EN 2591-508:1997
