DIN EN 60191-6-20:2011-03
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messmethoden für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ) (I...

Standard-Nr.
DIN EN 60191-6-20:2011-03
Erscheinungsdatum
2011
Organisation
German Institute for Standardization
Letzte Version
DIN EN 60191-6-20:2011-03

DIN EN 60191-6-20:2011-03 Veröffentlichungsverlauf

  • 2011 DIN EN 60191-6-20:2011-03 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messmethoden für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ) (I...
  • 2011 DIN EN 60191-6-20:2011 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messmethoden für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ) (IEC
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messmethoden für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ) (I...

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