IEC 63003:2015*IEEE Std 1505.1:2015
Internationaler IEC/IEEE-Standard für die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505(TM)

Standard-Nr.

IEC 63003:2015*IEEE Std 1505.1:2015

Erscheinungsdatum

2015

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Letzte Version

IEC 63003:2015*IEEE Std 1505.1:2015

IEC 63003:2015*IEEE Std 1505.1:2015 Veröffentlichungsverlauf

• 2015 IEC 63003:2015*IEEE Std 1505.1:2015 Internationaler IEC/IEEE-Standard für die gemeinsame Pin-Mapping-Konfiguration der Testschnittstelle für hochdichte, einstufige Elektroniktestanforderungen unter Verwendung von IEEE Std 1505(TM)