BS EN IEC 60749-41:2020 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Standardmethoden zur Zuverlässigkeitsprüfung nichtflüchtiger Speichergeräte
2020BS EN IEC 60749-41:2020 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Standardmethoden zur Zuverlässigkeitsprüfung nichtflüchtiger Speichergeräte