BS EN IEC 60749-41:2020
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Standardmethoden zur Zuverlässigkeitsprüfung nichtflüchtiger Speichergeräte

Standard-Nr.
BS EN IEC 60749-41:2020
Erscheinungsdatum
2020
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS EN IEC 60749-41:2020

BS EN IEC 60749-41:2020 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 BS EN IEC 60749-41:2020 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Standardmethoden zur Zuverlässigkeitsprüfung nichtflüchtiger Speichergeräte
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Standardmethoden zur Zuverlässigkeitsprüfung nichtflüchtiger Speichergeräte



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