SJ/T 11586-2016
Testverfahren für die 10-KeV-Röntgengesamtdosisbestrahlung mit niedriger Energie von Halbleiterbauelementen (Englische Version)

Standard-Nr.

SJ/T 11586-2016

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2016

Organisation

工业和信息化部

Letzte Version

SJ/T 11586-2016

SJ/T 11586-2016 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 SJ/T 11586-2016 Testverfahren für die 10-KeV-Röntgengesamtdosisbestrahlung mit niedriger Energie von Halbleiterbauelementen