UNE-EN 61788-15:2011
Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen bei Mikrowellenfrequenzen (Befürwortet von AENOR im März 2012.)

Standard-Nr.

UNE-EN 61788-15:2011

Erscheinungsdatum

2012

Organisation

ES-UNE

Letzte Version

UNE-EN 61788-15:2011

UNE-EN 61788-15:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2012 UNE-EN 61788-15:2011 Supraleitung – Teil 15: Elektronische Charakteristikmessungen – Intrinsische Oberflächenimpedanz von supraleitenden Filmen bei Mikrowellenfrequenzen (Befürwortet von AENOR im März 2012.)