SJ/T 11020-1996
Analysemethoden für das Silber-Kupfer-Löten von elektronischen Bauteilen - Bestimmung von Kupfer (iodimetrische Methode) (Englische Version)

Standard-Nr.

SJ/T 11020-1996

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Organisation

Professional Standard - Electron

Letzte Version

SJ/T 11020-1996

Ersetzen

GB 9620.1-1988

SJ/T 11020-1996 Veröffentlichungsverlauf

• 1970 SJ/T 11020-1996 Analysemethoden für das Silber-Kupfer-Löten von elektronischen Bauteilen - Bestimmung von Kupfer (iodimetrische Methode)