SJ 2215.7-1982
Methode zur Messung der Kollektor-Emitter-Sperrdurchbruchspannung von Halbleiter-Fotokopplern (Dioden) (Englische Version)

Standard-Nr.
SJ 2215.7-1982
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
1982
Organisation
Professional Standard - Electron
Zustand
 2015-10
ersetzt durch
SJ/T 2215-2015
Letzte Version
SJ/T 2215-2015

SJ 2215.7-1982 Veröffentlichungsverlauf

  • 2015 SJ/T 2215-2015 Messmethoden für Halbleiter-Optokoppler
  • 1982 SJ 2215.7-1982 Methode zur Messung der Kollektor-Emitter-Sperrdurchbruchspannung von Halbleiter-Fotokopplern (Dioden)

SJ 2215.7-1982 Methode zur Messung der Kollektor-Emitter-Sperrdurchbruchspannung von Halbleiter-Fotokopplern (Dioden) ha sido cambiado a SJ/T 2215-2015 Messmethoden für Halbleiter-Optokoppler.

Methode zur Messung der Kollektor-Emitter-Sperrdurchbruchspannung von Halbleiter-Fotokopplern (Dioden)



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