SJ/T 1147-1993
Prüfverfahren für den Tangens des dielektrischen Verlustwinkels und den dielektrischen Kanstant eines organischen Films zur Verwendung in Kondensatoren (Englische Version)

Standard-Nr.
SJ/T 1147-1993
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
1993
Organisation
Professional Standard - Electron
Zustand
Letzte Version
SJ/T 1147-1993
Ersetzen
SJ 1147-1977

SJ/T 1147-1993 Veröffentlichungsverlauf

  • 1993 SJ/T 1147-1993 Prüfverfahren für den Tangens des dielektrischen Verlustwinkels und den dielektrischen Kanstant eines organischen Films zur Verwendung in Kondensatoren
  • 0000 SJ 1147-1977
Prüfverfahren für den Tangens des dielektrischen Verlustwinkels und den dielektrischen Kanstant eines organischen Films zur Verwendung in Kondensatoren



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