SJ/T 10626-1995
Methode zur Bestimmung von Verunreinigungen in Golddrähten für das Halbleiter-Leiterbonden mittels ICP-AES (Englische Version)

Standard-Nr.
SJ/T 10626-1995
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
1995
Organisation
Professional Standard - Electron
Letzte Version
SJ/T 10626-1995

SJ/T 10626-1995 Veröffentlichungsverlauf

  • 1995 SJ/T 10626-1995 Methode zur Bestimmung von Verunreinigungen in Golddrähten für das Halbleiter-Leiterbonden mittels ICP-AES
Methode zur Bestimmung von Verunreinigungen in Golddrähten für das Halbleiter-Leiterbonden mittels ICP-AES



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