SJ 1551-1979
Methode zur Messung des spezifischen Widerstands der Silizium-Epitaxieschicht (Kapazitäts-Spannungs-Methode) (vorläufig) (Englische Version)

Standard-Nr.

SJ 1551-1979

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

1980

Organisation

Professional Standard - Electron

Zustand

zurückziehen 2010-02

Letzte Version

SJ 1551-1979

SJ 1551-1979 Veröffentlichungsverlauf

• 1980 SJ 1551-1979 Methode zur Messung des spezifischen Widerstands der Silizium-Epitaxieschicht (Kapazitäts-Spannungs-Methode) (vorläufig)