BS IEC 62047-27:2017
Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte – Haftfestigkeitstest für mit Glasfritten verbundene Strukturen mittels Mikro-Chevron-Tests (MCT)

Standard-Nr.

BS IEC 62047-27:2017

Erscheinungsdatum

2020

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

BS IEC 62047-27:2017

BS IEC 62047-27:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2020 BS IEC 62047-27:2017 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte – Haftfestigkeitstest für mit Glasfritten verbundene Strukturen mittels Mikro-Chevron-Tests (MCT)