SJ/T 11211-1999 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern. Teil 5: Verfahren zur Bestimmung äquivalenter elektrischer Parameter unter Verwendung automatischer Netzwerkanalysatortechniken und Fehlerkorrektur (Englische Version)
1999SJ/T 11211-1999 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern. Teil 5: Verfahren zur Bestimmung äquivalenter elektrischer Parameter unter Verwendung automatischer Netzwerkanalysatortechniken und Fehlerkorrektur