SJ/T 10705-1996
Standardverfahren zur Prüfung der Oberflächenqualität von Halbleiter-Anschlussdrähten (Englische Version)
- Standard-Nr.
- SJ/T 10705-1996
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 1996
- Organisation
- Professional Standard - Electron
- Zustand
- 2010-02
- Letzte Version
- SJ/T 10705-1996
SJ/T 10705-1996 Veröffentlichungsverlauf
- 1996 SJ/T 10705-1996 Standardverfahren zur Prüfung der Oberflächenqualität von Halbleiter-Anschlussdrähten
