SJ/T 11210-1999
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten bis zu 30 MHz (Englische Version)

Standard-Nr.

SJ/T 11210-1999

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

1999

Organisation

Professional Standard - Electron

Letzte Version

SJ/T 11210-1999

SJ/T 11210-1999 Veröffentlichungsverlauf

• 1999 SJ/T 11210-1999 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten bis zu 30 MHz